Cканирующий электронный микроскоп LANSEM

Микроскопы LANSEM эффективно решают задачи в металлургии (анализ изломов и микроструктур), электронике (контроль пайки и дефектов плат), геологии (исследование керна), фармацевтике (морфология частиц), а также в судебной экспертизе и материаловедении.

Сферы применения

Cканирующий электронный микроскоп LANSEM

Описание

Внедрение настольных сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) серии LANSEM позволяет обеспечить высокий уровень аналитики при оптимизации эксплуатационных расходов:

Инфраструктурная независимость: Оборудование не требует выделения специализированных помещений, виброизоляции или сложных инженерных коммуникаций.
Высокое разрешение: Визуализация морфологии поверхности с разрешением до 10 нм и увеличением до 100 000×.
Комплексный анализ: Интеграция с энергодисперсионной спектрометрией (EDS) позволяет одновременно оценивать топографию и элементный состав образца (от бора до урана).
Оперативность: Минимизированное время пробоподготовки благодаря режимам низкого вакуума и системам напыления.

Cканирующий электронный микроскоп LANSEM

Заявка

Просмотр видео