Металлографический инвертированный исследовательский микроскоп Leica DMi8

предназначен для контроля качества металлов и полимеров

Сферы применения

Металлографический инвертированный исследовательский микроскоп Leica DMi8
Описание

Микроскоп Leica DMi8 предназначен для исследовательских и лабораторных работ в области металлографии.
Инвертированный микроскоп Leica DMi8 с помощью модульной структуры позволяет вам получить устройство для решения любой задачи, требующей оптического метода исследования. 
Оборудование позволяет: исследовать ваш образец в светлом поле (BF), в темном поле (DF), в режиме поляризации (POL) или дифференциального интерференционного контраста (DIC). Получите дополнительную информацию о поверхности, используя уникальное ультра-контрастное трехмерное освещение (UC 3D).

Диск диафрагмы 
Одна из новейших разработок — новые флуоресцентные кубики для микроскопа Leica DMi8 позволяют делать многоканальные изображения быстро и легко. Турель для кубиков имеет время переключения в 268 мс. Прочная конструкция кубиков обеспечивает идеальное выравнивание изображения с нулевым пиксельным смещением. 
Оптимизация работы с sCMOS-камерами

В Leica DMi8 расширено поле зрения (FOV) для всех портов камер. Микроскоп оптимизирован для работы с самыми современными sCMOS камерами, а также имеет расширенный угол обзора 19 мм (по сравнению с 16 мм у стандартных портов для камер). 
От макро до нано в один клик

DMi8 может быть оснащен моторизованным переключением макро/нано режима для быстрого сканирования больших структур. Переход от макро (35мм) до нано (1нм) может быть осуществлен в один щелчок мыши. Переключайтесь между различными увеличениями (от 0,7х до 100х) и наслаждайтесь удобным освещением Ваших образцов с различных углов. 
Темное поле в высоком разрешении (HAADF) 
Высокое разрешение в темном поле у Leica DMi8 предоставляет улучшенный контраст деталей образца с большей интенсивностью и четкостью, чем это делают обычные оптические методы. Также увеличено рабочее расстояние почти в два раза, что позволяет защитить Ваш образец и переднюю линзу от потертостей.
Системы анализа изображений в составе оптических микроскопов Leica 
Программное обеспечение систем анализа изображений в составе любых из вышеперечисленных световых микроскопов предназначено для автоматического анализа микроструктуры изучаемых образцов на соответствие различным стандартам (ГОСТ, ISO, ASTM, DIN и др.). Модульная структура программного обеспечения включает в себя такие популярные методики металлографического анализа, как: 
Величина зерна в сталях и сплавах ГОСТ 5639, 
Неметаллические включения в сталях и сплавах ГОСТ 1778 (методы Ш и К), 
Анализ графита в чугуне ГОСТ 3443, 
Относительное содержание феррита и перлита ГОСТ 8233, 
Измерение длин игл мартенсита ГОСТ 8233, 
Методы сравнения с эталонами и т.д.
Возможно создание уникальной методики анализа по техническому заданию заказчика (Анализ величины зерна и пористости в таблетках диоксида урана, Анализ альфа-фазы в титановых сплавах, Анализ многокомпонентных алюминиевых сплавов и т.д.).

Металлографический микроскоп Leica DMi 8 в комплектациях М, C и А.

Доступны три комплектации микроскопа:
(М) – manual, ручной инвертированный микроскоп;
(C) – coded, инвертированный микроскоп с кодированными функциями;
(А) – automatized, инвертированный микроскоп с кодированными и автоматизированными функциями.
Наличие кодированных функций означает возможность передачи данных о той или иной функции микроскопа (револьверная турель объективов, турель модулей контрастирования, интенсивность освещения) на выносное устройство управления, в программное обеспечение, на устройства индикации положений.

 

 

 

 

 

Характеристики

Увеличение: от 7 крат до 3000 крат
Режимы освещения: отраженный и проходящий свет
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, косое освещение
Ход предметного столика по XY: ручной столик - 100х50 мм
Ход фокусировки по Z: 12 мм с точностью позиционирования 0,01 мм

Главная
Каталог
Позвонить
Написать